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Afokale Optiken werden auch heute noch oft mit rein visuellen Testverfahren geprüft. Die Ergebnisse basieren daher auf der subjektiven Einschätzung des Prüfers und somit ist die Wiederholbarkeit der Messergebnisse nicht gewährleistet. Aufgrund der Vielzahl der bestimmenden Faktoren stößt die subjektive Qualitätsprüfung selbst bei den erfahrensten Fachleuten oft an ihre Grenzen. Mit dem ImageMaster Afocal werden afokale optische Systeme mit einer Vielzahl an spezifischen optischen Kenngrößen auf ihre Funktionalität und Abbildungsqualität hin geprüft.

Erstellen Sie jetzt Endlosverbindungen mit 90 mm Heizbreite! Unsere neueste Entwicklung im Bereich der Impulsschweißmaschinen zur Herstellung von Endlosverbindungen ermöglicht eine maximale Heizbreite von 90 mm bei einer Transportbandbreite von bis zu 700 mm. Die Impulsschweißtechnik für thermoplastische Bänder zeichnet sich durch sehr kurze Aufheiz- und Abkühlzeiten aus und ist daher sehr effizient. Das neue Aggregat ergänzt unser bestehendes Sortiment mit 45 mm Heizbreite und 600 mm bis 1200 mm Transportbandbreite. Suche nach: Neueste Beiträge Endlosverbindungen von Transportbändern HF Schweißwerkzeuge / Elektroden Trittschutz-Schweißanlagen HF-Etagenschiebetisch-Schweißmaschine Serienproduktion HF-Schiebetisch-Schweissanlage B2000

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Ein Twyman-Green-Interferometer ist ein modifiziertes Michelson-Interferometer. Hier ist der Strahlteiler von der Referenzoberfläche getrennt. Der Vorteil dieser Konfiguration besteht in einer größeren Flexibilität, da beide Interferometerarme unabhängig voneinander modifiziert werden können. So kann die Intensität des Referenz- und Testarms je nach unterschiedlichen Reflexionsvermögen der Probe leicht aneinander angepasst werden, um einen maximalen Fransenkontrast zu erhalten. Dies erhöht enorm das Anwendungsspektrum. Nur ein maximaler Fransenkontrast ermöglicht eine maximale Tiefenauflösung. Die Referenzoberfläche kann eine Oberfläche sein, die unabhängig von der Probengröße kostengünstig und präzise hergestellt werden kann. Die Anpassung an die Probengröße erfolgt durch konventionelle Optiken zur Strahlanpassung im Testarm. Im Gegensatz zu den Optiken zur Strahlanpassung bei Fizeau-Interferometern erfordern diese Optiken keine teure Fizeau-Oberfläche als Endoberfläche. Als Folge dieser Flexibilität werden die Interferenzmuster nicht nur durch die Probefehler verursacht, sondern auch durch die Aberrationen der zusätzlichen Optiken in den einzelnen Interferometerarmen. Heutzutage werden Proben jedoch nicht mehr durch visuelle Inspektion des Fransenmusters bewertet, sondern durch computerunterstützte Analyse der Phasenkarte, die das Fransenmuster verursacht. Während dieser Analyse können die Aberrationen der zusätzlichen Optiken leicht berücksichtigt werden. Schließlich liefert die Software ein objektives digitales Messergebnis.